AEC-Q100測試項目

AEC-Q100認證是什么

AEC 是”Automotive Electronics Council：汽車(chē)電子協(xié)會(huì )”的簡(jiǎn)稱(chēng)鸳黎。

AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標準，于1994年6月首次發(fā)表酵推，經(jīng)過(guò)了十多年的發(fā)展肚喝，AEC-Q100已經(jīng)成為汽車(chē)電子系統的通用標準。對于汽車(chē)電子元器件來(lái)說(shuō)AEC-Q100是最常見(jiàn)的應力測試(Stress Test)認證規范柞换。

AEC-Q100主要是針對車(chē)載應用的集成電路產(chǎn)品所設計出的一套應力測試標準，此規范對于提升產(chǎn)品信賴(lài)性品質(zhì)保證相當重要。AEC-Q100是預防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認，特別對產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標準規范測試。

AEC-Q100認證對象

集成電路（ICs）

零件工作溫度等級的定義

AEC-Q100有四個(gè)溫度等級：0，1，2证彦，3。其中0為最高級別，若能達到0級要求則代表產(chǎn)品可以用于汽車(chē)各個(gè)部件。

0等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-150°C

1等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-125°C

2等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-105°C

3等級: 環(huán)境工作溫度范圍-40°C-85°C

AEC-Q100測試標準

AEC-Q100 Rev-H 基于集成電路應力測試認證的失效機理

AEC-Q100-001 邦線(xiàn)切應力測試杏倒；

AEC-Q100-002 人體模式靜電放電測試；

AEC-Q100-003 機械模式靜電放電測試；

AEC-Q100-004 集成電路閂鎖效應測試枪噎；

AEC-Q100-005 可寫(xiě)可擦除的永久性記憶的耐久性门赏、數據保持及工作壽命的測試；

AEC-Q100-006 熱電效應引起的寄生閘極漏電流測試；

AEC-Q100-007 故障仿真和測試等級；

AEC-Q100-008 早期壽命失效率（ELFR）打紫；

AEC-Q100-009 電分配的評估缄陪；

AEC-Q100-010 錫球剪切測試；

AEC-Q100-011 帶電器件模式的靜電放電測試魔狸；

AEC-Q100-012 12V 系統靈敏功率設備的短路可靠性描述把迅。

AEC-Q100測試項目

A組：加速環(huán)境應力測試（6項）

B組：加速壽命模擬測試（3項）

C組：封裝組裝完整性測試（6項）

D組：晶圓制造可靠度測試（5項）

E組：電氣特性確認測試（11項）

F組：瑕疵篩選監控測試（2項）

G組：空封器件完整性測試（8項）

AEC-Q100驗證樣品數量

對于每個(gè)測試序列中的詳細測試項目，也在A(yíng)EC-Q100標準中有詳細的描述，并且每種測試的測試時(shí)間也根據Grade等級給出了不同的要求涕榨。在A(yíng)EC-Q100的測試中，對于序列A中，測試的樣品數很多都是77個(gè)青听，并且要求0 Fails，這就極大得增加了芯片測試的置信度。

AEC-Q100認證作用

主要用于預防產(chǎn)品可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，引導零部件供貨商在開(kāi)發(fā)的過(guò)程中就能采用符合該規范的芯片。AEC-Q100對每一片芯片進(jìn)行嚴格的質(zhì)量與可靠度確認，確認制造商所提出的產(chǎn)品規格表从她、使用目的、功能說(shuō)明等是否符合最初需求的功能，以及在連續使用后功能與性能是否始終如一。

AEC-Q100標準的目標是提高產(chǎn)品的良品率，這對芯片供貨商來(lái)說(shuō)瘁毅，不論是在產(chǎn)品的尺寸、合格率及成本控制上都面臨很大的挑戰。不管是投標還是占領(lǐng)市場(chǎng)，要想盡早進(jìn)入汽車(chē)領(lǐng)域并且立足，AEC-Q100系列認證都將會(huì )是車(chē)規芯片認證的首選。