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失效分析
電特性測試(Electrical Test)
描述:
根據規格書(shū)中廠(chǎng)商所指定的器件引腳及相關(guān)說(shuō)明,使用半導體管特性圖示儀靛敝,檢查復驗樣品是否有開(kāi)路、短路爷怯、阻抗異常等問(wèn)題,以此來(lái)確認產(chǎn)品的失效模式。
分析范圍:
半導體元器件、PCBA。
電特性測試案例:
電特性測試設備圖片:
創(chuàng )芯在線(xiàn)實(shí)驗室設備優(yōu)勢:
1赎歧、針對復雜的集成電路量測內部二極管特性更快,更直觀(guān)的反應芯片沒(méi)有有無(wú)開(kāi)路斌榆、短路、漏電零洞、參數漂移等問(wèn)題哦徐;
2、該設備對二極管、MOS管、三極管基本的參數能夠更直觀(guān)的反應其I-V特性藉虱;