可靠性驗證
- 車(chē)載集成電路可靠性驗證
- · 車(chē)電零部件可靠性驗證(AEC) · 板階 (BLR) 車(chē)電可靠性驗證 · 車(chē)用系統/PCB可靠度驗證 · 可靠度板階恒加速試驗 · 間歇工作壽命試驗(IOL) · 可靠度外形尺寸試驗 · 可靠度共面性試驗
- 環(huán)境類(lèi)試驗
- · 高低溫 · 恒溫恒濕 · 冷熱沖擊 · HALT試驗 · HASS試驗 · 快速溫變 · 溫度循環(huán) · UV紫外老化 · 氙燈老化 · 水冷測試 · 高空低氣壓 · 交變濕熱
- 機械類(lèi)試驗
- · 拉力試驗 · 芯片強度試驗 · 高應變率-振動(dòng)試驗 · 低應變率-板彎/彎曲試驗 · 高應變率-機械沖擊試驗 · 芯片封裝完整性-封裝打線(xiàn)強度試驗 · 芯片封裝完整性-封裝體完整性測試 · 三綜合(溫度挫饲、濕度、振動(dòng)) · 四綜合(溫度描逮、濕度查欧、振動(dòng)洁键、高度) · 自由跌落 · 紙箱抗壓
- 腐蝕類(lèi)試驗
- · 氣體腐蝕 · 鹽霧 · 臭氧老化 · 耐試劑試驗
- IP防水/防塵試驗
- · IP防水等級(IP00~IP69K) · 冰水沖擊 · 浸水試驗 · JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試 · IP防塵等級(IP00~IP69)
溫度循環(huán)試驗(Temperature Cycling Test)
描述:
溫濕度組合循環(huán)測試是將樣品暴露于設定的溫度和濕度交替的試驗環(huán)境中秩碾,評估樣品經(jīng)溫度、濕度環(huán)境循環(huán)或儲存后之功能特性變化拉滞。
產(chǎn)品存儲、工作的環(huán)境都帶有一定的溫度、濕度厘拒,而且會(huì )不斷變化列才。比如:白天晚上的溫差,不同溫度不同時(shí)間下的不同濕度,產(chǎn)品在運輸過(guò)程中經(jīng)過(guò)不同溫濕度的地區等。這種交替變換的溫濕度環(huán)境會(huì )影響到產(chǎn)品的性能及壽命桓货,加速產(chǎn)品的老化氖邢。溫濕度循環(huán)模擬產(chǎn)品存儲、工作的溫濕度環(huán)境,檢驗產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時(shí)間后所受到的影響是否在可接受的范圍內。
目的:驗證產(chǎn)品及材料在高低溫及大氣濕度條件下殴唁,所承受環(huán)境變化的能力。
高低溫循環(huán)試驗目的:檢驗產(chǎn)品受到長(cháng)時(shí)間冷熱溫度交變作用后熱應力對產(chǎn)品性能的影響作用泼羽。
濕熱試驗目的:檢驗產(chǎn)品受到高溫高濕環(huán)境時(shí)的劣化特性,評價(jià)材料的吸濕特性主灵、結露特性,及產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的貯存和使用性能。
試驗失效:材料吸入水份而膨脹速偿;物理強度的喪失;化學(xué)性能的改變;絕緣性能退化;機件之腐蝕及潤滑劑之失效竹咏;材料之氧化效應;可塑性喪失;加速化學(xué)反應妆舔;電子組件之退化。
應用范圍:
儀器儀表材料虱丑、電工迈刁、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料皋痛、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件。
溫度循環(huán)試驗設備圖片: