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可靠性驗證
HALT試驗（Highly accelerated life test）
描述：
HALT（高加速壽命測試）：Highly accelerated life test是一種發(fā)現設計缺陷的工序，它通過(guò)設置逐級遞增的加速環(huán)境應力矽淋，來(lái)加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點(diǎn)，而后對暴露的缺陷和故障從設計喧梗、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)咽焦，從而達到提升可靠性的目的，較大的特點(diǎn)是設置樣品設計運行限的環(huán)境應力，從而從暴露故障的時(shí)間大大短于正常可靠性應力條件下的所需時(shí)間。
目的：
在HALT試驗中可找到被測物在溫度及振動(dòng)應力下的可操作界限與破壞界限；為開(kāi)發(fā)人員改進(jìn)產(chǎn)品設計方案提供依據，以對產(chǎn)品設計缺陷進(jìn)行及時(shí)的修正；并為HASS的應力類(lèi)型和應力量級的選擇提供依據褂刽。
作用：
快速發(fā)現產(chǎn)品設計、制程上的薄弱點(diǎn)；幫助提高產(chǎn)品設計的欲度；有效地提高產(chǎn)品的可靠性；節省設計時(shí)間和費用；幫助排除產(chǎn)品設計的問(wèn)題礁赞；幫助評估產(chǎn)品設計的變更。
原理：
測試沒(méi)有通過(guò)與不通過(guò)的評定標準；所有的樣品需要測試到失效為止；測試中肖糠，樣品需要被實(shí)時(shí)監測；測試中發(fā)現的任何問(wèn)題都需要進(jìn)行分析，找出失效原因探躇；該測試結果不能用來(lái)量化產(chǎn)品的可靠性。
應用范圍：
電子滋涸、元器件、電路板等電工電子產(chǎn)品零部件袒钙。
試驗項目：
