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可靠性驗證
- 車(chē)載集成電路可靠性驗證
- · 車(chē)電零部件可靠性驗證(AEC) · 板階 (BLR) 車(chē)電可靠性驗證 · 車(chē)用系統/PCB可靠度驗證 · 可靠度板階恒加速試驗 · 間歇工作壽命試驗(IOL) · 可靠度外形尺寸試驗 · 可靠度共面性試驗
- 環(huán)境類(lèi)試驗
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- 機械類(lèi)試驗
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- 腐蝕類(lèi)試驗
- · 氣體腐蝕 · 鹽霧 · 臭氧老化 · 耐試劑試驗
- IP防水/防塵試驗
- · IP防水等級(IP00~IP69K) · 冰水沖擊 · 浸水試驗 · JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試 · IP防塵等級(IP00~IP69)
HALT試驗(Highly accelerated life test)
描述:
HALT(高加速壽命測試):Highly accelerated life test是一種發(fā)現設計缺陷的工序,它通過(guò)設置逐級遞增的加速環(huán)境應力矽淋,來(lái)加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點(diǎn),而后對暴露的缺陷和故障從設計喧梗、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)咽焦,從而達到提升可靠性的目的,較大的特點(diǎn)是設置樣品設計運行限的環(huán)境應力,從而從暴露故障的時(shí)間大大短于正常可靠性應力條件下的所需時(shí)間。
目的:
在HALT試驗中可找到被測物在溫度及振動(dòng)應力下的可操作界限與破壞界限;為開(kāi)發(fā)人員改進(jìn)產(chǎn)品設計方案提供依據,以對產(chǎn)品設計缺陷進(jìn)行及時(shí)的修正;并為HASS的應力類(lèi)型和應力量級的選擇提供依據褂刽。
作用:
快速發(fā)現產(chǎn)品設計、制程上的薄弱點(diǎn);幫助提高產(chǎn)品設計的欲度;有效地提高產(chǎn)品的可靠性;節省設計時(shí)間和費用;幫助排除產(chǎn)品設計的問(wèn)題礁赞;幫助評估產(chǎn)品設計的變更。
原理:
測試沒(méi)有通過(guò)與不通過(guò)的評定標準;所有的樣品需要測試到失效為止;測試中肖糠,樣品需要被實(shí)時(shí)監測;測試中發(fā)現的任何問(wèn)題都需要進(jìn)行分析,找出失效原因探躇;該測試結果不能用來(lái)量化產(chǎn)品的可靠性。
應用范圍:
電子滋涸、元器件、電路板等電工電子產(chǎn)品零部件袒钙。
試驗項目: