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可靠性驗證
- 車(chē)載集成電路可靠性驗證
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- 環(huán)境類(lèi)試驗
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- 機械類(lèi)試驗
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- 腐蝕類(lèi)試驗
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- IP防水/防塵試驗
- · IP防水等級(IP00~IP69K) · 冰水沖擊 · 浸水試驗 · JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試 · IP防塵等級(IP00~IP69)
可靠度板階恒加速試驗
描述: 恒加速試驗的目的, 用來(lái)確定恒定加速度對微電子器件的影響, 補充在機械沖擊和振動(dòng)試驗過(guò)程中不一定能被檢測出來(lái)的樣品本身結構和機械類(lèi)型的缺陷板驻,同時(shí)也可用于作為高應力試驗來(lái)檢定封裝、內部鍵合、芯片或基板的焊接以及一些其它部件的極限機械強度。從而補強現有機械沖擊與振動(dòng)外, 對機械結構的極限驗證目的。
芯片產(chǎn)品經(jīng)受穩態(tài)加速度(恒加速度)環(huán)境所產(chǎn)生的力(重力除外)的作用下, 結構的適應性和性能是否良好, 以及評價(jià)一些元器件的結構完好性, 并且在穩態(tài)加速度(恒加速度)環(huán)境下考核試品的電參數。
該設備加速度范圍:5000(g)∽40000(g),符合汽車(chē)電子標準(AEC)定義條件, < 40 Pin使用30000(g), 且完全滿(mǎn)足常規芯片尺寸范圍。
失效模式:外觀(guān)破損,內部邦線(xiàn)斷裂異常。
應用范圍:汽車(chē)電子標準AEC集成電路與半導體元器件。
檢測設備圖片: