6
可靠性驗證
- 車(chē)載集成電路可靠性驗證
- · 車(chē)電零部件可靠性驗證(AEC) · 板階 (BLR) 車(chē)電可靠性驗證 · 車(chē)用系統/PCB可靠度驗證 · 可靠度板階恒加速試驗 · 間歇工作壽命試驗(IOL) · 可靠度外形尺寸試驗 · 可靠度共面性試驗
- 環(huán)境類(lèi)試驗
- · 高低溫 · 恒溫恒濕 · 冷熱沖擊 · HALT試驗 · HASS試驗 · 快速溫變 · 溫度循環(huán) · UV紫外老化 · 氙燈老化 · 水冷測試 · 高空低氣壓 · 交變濕熱
- 機械類(lèi)試驗
- · 拉力試驗 · 芯片強度試驗 · 高應變率-振動(dòng)試驗 · 低應變率-板彎/彎曲試驗 · 高應變率-機械沖擊試驗 · 芯片封裝完整性-封裝打線(xiàn)強度試驗 · 芯片封裝完整性-封裝體完整性測試 · 三綜合(溫度拭亥、濕度爽料、振動(dòng)) · 四綜合(溫度煽晃、濕度诉乱、振動(dòng)、高度) · 自由跌落 · 紙箱抗壓
- 腐蝕類(lèi)試驗
- · 氣體腐蝕 · 鹽霧 · 臭氧老化 · 耐試劑試驗
- IP防水/防塵試驗
- · IP防水等級(IP00~IP69K) · 冰水沖擊 · 浸水試驗 · JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測試 · IP防塵等級(IP00~IP69)
車(chē)電零部件可靠性驗證(AEC)
描述: 車(chē)用電子主要依據國際汽車(chē)電子協(xié)會(huì )(Automotive Electronics Council,簡(jiǎn)稱(chēng)AEC)作為車(chē)規驗證標準裳滁,包括AEC-Q100(集成電路IC)、AEC-Q101(離散組件)、AEC-Q102(離散光電LED)、AEC-Q103(壓力傳感器/麥克風(fēng)) 靛搪、AEC-Q104(多芯片組件)、AEC-Q200(被動(dòng)組件)啼抹。其測試條件雖然比消費型芯片規范嚴苛哼藕,但測試條件仍以JEDEC或MIL-STD為主壳弃,另外加入特殊規格,例如電磁兼容性(EMC)驗證。
車(chē)用電子測試不僅著(zhù)重于產(chǎn)品壽命測試筒弃,更重要的是揭扁,將產(chǎn)品結構及產(chǎn)品組裝質(zhì)量觀(guān)念,帶入試驗中诲运,例如推拉力測試、錫球接合強度測試、彎曲測試等,將傳統對于電子元器件著(zhù)重于電性與環(huán)境溫濕度關(guān)聯(lián)度的試驗范疇,擴展到應力與機構,做一個(gè)先期驗證。
測試條件: