元器件二次篩選的試驗方法和項目
日期：2024-06-18 11:19:56 瀏覽量：317 標簽: 元器件
電子元器件二次篩選是檢驗元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段牵誊。二次篩選可淘汰由于制造缺陷造成的早期失效產(chǎn)品诌庙，提高器件整批使用可靠性。篩選試驗的有效性為確定篩選試驗方法和篩選項目，可以依據以往產(chǎn)品篩選試驗數據的積累性霜。通過(guò)分析這些數據芭耕，確定那些能夠有效篩選出早期失效品的試驗項目。而那些篩選淘汰率極低或無(wú)法將有缺陷產(chǎn)品排除的試驗項目則不應列入篩選試驗中蔽歇。
評估篩選方案的有效性可通過(guò)篩選效果和篩選淘汰率等指標來(lái)衡量。篩選的有效性主要取決于合理選擇篩選項目和應力條件，要獲得理想的篩選效果并不容易台秧。對于產(chǎn)品的篩選要求愈讶，一般根據其質(zhì)量與可靠性保證等級所規定的標準進(jìn)行篩選。
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篩選試驗應力的確定原則篩選試驗應力的選擇應符合以下原則：首先，篩選應力類(lèi)型應選擇能夠激發(fā)早期失效的應力斤环，這需要根據不同產(chǎn)品的失效機理和所掌握的信息來(lái)確定汽羡；其次，篩選應力應致力于盡早暴露產(chǎn)品各種隱患和缺陷；同時(shí)，篩選應力不應使正常產(chǎn)品發(fā)生失效瑚粟；此外，篩選應力去除后不應對產(chǎn)品留下殘余應力或影響其使用壽命扇烷；最后，篩選應力試驗持續時(shí)間應足夠長(cháng)，以充分暴露早期失效。
篩選試驗方法常規篩選方法主要分為常規檢查篩選、密封性篩選匈挎、環(huán)境應力篩選、壽命篩選和電測試篩選等幾種。
1. 常規檢查篩選：包括鏡檢、紅外線(xiàn)篩選和X射線(xiàn)篩選等。紅外線(xiàn)篩選可用于剔除具有嚴重熱缺陷的器件，X射線(xiàn)篩選用于檢查管殼內是否存在外來(lái)物以及檢查裝片、鍵合或封裝工序的缺陷和芯片裂紋因盛。
2. 密封性篩選：包括氣泡法铬弟、氦質(zhì)譜儀法、放射性氣體和示蹤檢漏法等。這些方法用于剔除管殼和密封工藝中存在的缺陷，如裂紋镐据、微小漏孔、氣孔以及封裝對位欠佳等。
3. 環(huán)境應力篩選：包括振動(dòng)加速度、沖擊加速度、離心加速度棚痈、溫度循環(huán)和熱沖擊等。這些方法通過(guò)施加特定的環(huán)境應力來(lái)篩選出早期失效品尔绚。
4. 壽命篩選：包括高溫貯存澜恭、低溫貯存碌春、老練篩選、精密篩選和線(xiàn)性判別等。這些方法通過(guò)對元器件進(jìn)行一段時(shí)間的貯存或特定條件下的老化測試，以篩選出存在質(zhì)量問(wèn)題的產(chǎn)品。
5. 電測試篩選：可作為對晶體管等器件的補充手段稼荧。
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