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  1. 元器件二次篩選的試驗方法和項目

    日期:2024-06-18 11:19:56 瀏覽量:317 標簽: 元器件

    電子元器件二次篩選是檢驗元器件批合格率、質(zhì)量一致性的重要手段牵誊。二次篩選可淘汰由于制造缺陷造成的早期失效產(chǎn)品诌庙,提高器件整批使用可靠性。篩選試驗的有效性為確定篩選試驗方法和篩選項目,可以依據以往產(chǎn)品篩選試驗數據的積累性霜。通過(guò)分析這些數據芭耕,確定那些能夠有效篩選出早期失效品的試驗項目。而那些篩選淘汰率極低或無(wú)法將有缺陷產(chǎn)品排除的試驗項目則不應列入篩選試驗中蔽歇。

    評估篩選方案的有效性可通過(guò)篩選效果和篩選淘汰率等指標來(lái)衡量。篩選的有效性主要取決于合理選擇篩選項目和應力條件,要獲得理想的篩選效果并不容易台秧。對于產(chǎn)品的篩選要求愈讶,一般根據其質(zhì)量與可靠性保證等級所規定的標準進(jìn)行篩選。

    元器件二次篩選的試驗方法和項目

    篩選試驗應力的確定原則篩選試驗應力的選擇應符合以下原則:首先,篩選應力類(lèi)型應選擇能夠激發(fā)早期失效的應力斤环,這需要根據不同產(chǎn)品的失效機理和所掌握的信息來(lái)確定汽羡;其次,篩選應力應致力于盡早暴露產(chǎn)品各種隱患和缺陷;同時(shí),篩選應力不應使正常產(chǎn)品發(fā)生失效瑚粟;此外,篩選應力去除后不應對產(chǎn)品留下殘余應力或影響其使用壽命扇烷;最后,篩選應力試驗持續時(shí)間應足夠長(cháng),以充分暴露早期失效。

    篩選試驗方法常規篩選方法主要分為常規檢查篩選、密封性篩選匈挎、環(huán)境應力篩選、壽命篩選和電測試篩選等幾種。

    1. 常規檢查篩選:包括鏡檢、紅外線(xiàn)篩選和X射線(xiàn)篩選等。紅外線(xiàn)篩選可用于剔除具有嚴重熱缺陷的器件,X射線(xiàn)篩選用于檢查管殼內是否存在外來(lái)物以及檢查裝片、鍵合或封裝工序的缺陷和芯片裂紋因盛。

    2. 密封性篩選:包括氣泡法铬弟、氦質(zhì)譜儀法、放射性氣體和示蹤檢漏法等。這些方法用于剔除管殼和密封工藝中存在的缺陷,如裂紋镐据、微小漏孔、氣孔以及封裝對位欠佳等。

    3. 環(huán)境應力篩選:包括振動(dòng)加速度、沖擊加速度、離心加速度棚痈、溫度循環(huán)和熱沖擊等。這些方法通過(guò)施加特定的環(huán)境應力來(lái)篩選出早期失效品尔绚。

    4. 壽命篩選:包括高溫貯存澜恭、低溫貯存碌春、老練篩選、精密篩選和線(xiàn)性判別等。這些方法通過(guò)對元器件進(jìn)行一段時(shí)間的貯存或特定條件下的老化測試,以篩選出存在質(zhì)量問(wèn)題的產(chǎn)品。

    5. 電測試篩選:可作為對晶體管等器件的補充手段稼荧。

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